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じたいCOXEM EM-30AX PLUSへの最近の投資は、品質管理がより大きな市場シェアを獲得するための推進の中心的な要素であることを保証する能力に革命をもたらしました。
COXEMの高精度SEM(走査型電子顕微鏡)は、サンプル材料のごくわずかな部分を観察するために設計されたツールです。非常に高い倍率(最大150,000倍)で、詳細で焦点の合った画像を取得できます。COXEM EM-30AX PLUSの多くの利点の1つは、短波長の電子ビームを使用することです。これは、加速電圧、作動距離、電子ビームのサイズを調整することにより、高分解能を実現するのに特に効果的です。
EM-30AX PLUSは、EM30PLusからのアップデートであり、高度な形態学的分析を可能にします。更新されたバージョンの主な利点は、デバイス内に直接小型化された微量分析をインストールできることです。これは与えるじたい形態学的および組成的ベースの両方で材料を分析する能力。EDS検出器を使用すると、問題のあるスポットを特定したり、サンプルに存在する化学元素全体をマッピングしたりできます。EM-30AX Plusは5nmの解像度が可能であり、品質を微量分析できるため、ナノレベルでも保証されます。その豊富な動作電圧は1〜30kVに及びます。そのため、ナノテクノロジー、金属の特性評価、合金の分野に広く適用可能であり、じたいシームレスな生産能力の絶え間ない追求。


投稿時間:2021年8月9日